Tommaso Brazzini
Contacto: tommaso.brazzini@uva.es
Tommaso Brazzini.
Licenciado en física por la Universidad de Florencia (Firenze, Italia). Doctor en sistemas electrónicos por la Universidad Politécnica de Madrid (UPM, Madrid, España), actualmente investigador en la Universidad de Valladolid en dinámica de sistemas en el grupo GEEDS. Ha tenido experiencia en el desarrollo de una metodología sistémica de transición eco-social en municipios y comunidades locales (LTT) dentro del movimiento global de transición. Es profesor invitado en el Máster en Humanidades Ecológicas, Sustentabilidad y Transición Ecosocial (MHESTE) de la universidad politécnica de Valencia (UPV, Valencia, España). Durante su carrera ha acumulado experiencia en temas de pensamiento sistémico, resiliencia, transición eco-social, transición energética, energías renovables, materiales semiconductores, permacultura, tutoría para la transición, sociocracia 3.0.
Publicaciones:
Publicaciones académicas (selección)
-
- T. Gomez-Navarro, T. Brazzini, D. Alfonso-Solar, C. Vargas-Salgado, Analysis of the potential for PV rooftop prosumer production: technical, economic and environmental assessment for the city of Valencia (Spain), Renewable Energy 174, 372-381 (2021). DOI:10.1016/j.renene.2021.04.049
- P. Macedo, A. Huertas, C. Bottone, J. del Río, N. Hillary, T. Brazzini, J. M. Wittmayer and G. Penha-Lopes Learnings from Local Collaborative Transformations: Setting a Basis for a Sustainability Framework, Sustainability 12, 795 (2020)
- T. Brazzini, M. A. Casbon, M. J. Uren, P. J. Tasker, H. Jung, H. Blanck, and M. Kuball Hot electron electroluminescence under RF operation in GaN-HEMTs: A comparison among operational classes, IEEE Transactions on Electron Devices 64, 2155 (2017)
- T. Brazzini, H. Sun, F. Sarti, J. W. Pomeroy, C. Hodges, A. Vinattieri, M. Gurioli, and M. Kuball Mechanism of hot electron electroluminescence in GaN-based transistors, Journal of physics D: Applied physics 49, 435101 (2016)
- E. Alarcón-Lladó, T. Brazzini, and J. W. Ager Surface origin and control of resonance Raman scattering and surface band gap in indium nitride, Journal of physics D: Applied physics 49, 255102 (2016)
- M.A. Casbon, T. Brazzini, P.J. Tasker, M.J. Uren, M. Kuball Simultaneous Measurement of Optical and RF Behavior under CW and Pulsed Fully Active Harmonic Load-Pull, 87th ARFTG Microwave Measurement Conference (ARFTG), 27th May 2016, San Francisco, CA, USA, DOI: 10.1109/ARFTG.2016.7501954
- T. Brazzini, M. A. Casbon, H. Sun, M. J. Uren, J. Lees, P. J. Tasker, H. Jung, H. Blanck, and M. Kuball Study of hot electrons in AlGaN/GaN HEMTs under RF Class B and Class J operation using electroluminescence, Microelectronics Reliability 55, 2493 (2015)
- P. Yu. Bokov, T. Brazzini, M. F. Romero, F. Calle, M. Feneberg, R. Goldhahn Electroreflectance characterization of AlInGaN/GaN high-electron mobility heterostructures, Semiconductor Science and Technology 30, 085014 (2015)
- T. Brazzini, M. A. Casbon, H. Sun, M. J. Uren, J. Lees, P. J. Tasker, H. Jung, H. Blanck, and M. Kuball Electroluminescence of hot electrons in AlGaN/GaN high-electron-mobility transistors under RF operation, Appl. Phys. Lett. 106, 213502 (2015)
- G.R. Mutta, T. Brazzini, L. Méchin, J.-M. Routoure, B. Guillet, J.-L. Doualan, J. Grandal, M. C. Sabido Siller, F. Calle and P. Ruterana Influence of fabrication steps on optical and electrical properties of InN thin films, Semicond. Sci. Technol. 29, 095010 (2014)
- T. Brazzini, S. Martin-Horcajo, M.F. Romero, Ž.Gacevic, F. Calle Analysis of InAl(Ga)N/GaN wet-etching by structural, morphological and electrical methods, Semicond. Sci. Technol. 29, 075003 (2014)
- T. Brazzini, M.J. Tadjer, Ž.Gacevic, S. Pandey, A. Cavallini, F. Calle Structural and morphological studies on wet-etched InAlGaN barrier HEMT structures, Semicond. Sci. Technol. 28, 055007 (2013)
- T. Brazzini, S. Pandey, M. F. Romero, P. Yu. Bokov, M. Feneberg, G. Tabares, A. Cavallini, R. Goldhahn and F. Calle Impact of AlN Spacer on Metal-Semiconductor-Metal Pt-InAlGaN/GaN Heterostructures for Ultraviolet Detection, Japanese Journal of Applied Physics 52, 08JK04 (2013)
- T. Brazzini, A. Bengoechea-Encabo, M. A. Sánchez-García, F. Calle Investigation of AlInN barrier ISFET structures with GaN capping for pH detection, Sensors and Actuators B 176, 704-707 (2013)
- S. Pandey, D. Cavalcoli, B. Fraboni, A. Cavallini, T. Brazzini, and F. Calle, Role of surface trap states on two-dimensional electron gas density in InAlN/AlN/GaN heterostructures, Applied Physics Letters 100, 152116 (2012)
- A. Minj, D. Cavalcoli, S. Pandey, B. Fraboni, A. Cavallini, T. Brazzini and F. Calle, Nanocrack induced leakage current in AlInN/AlN/GaN, Scripta Materialia 66, 327-330 (2012)
- G. R. Mutta, J. M. Routoure, B. Guillet, L. Méchin, J. Grandal, S. Martin-Horcajo, T. Brazzini, F. Calle, M. A. Sánchez-García, P. Marie, and P. Ruterana, Volume charge carrier number fluctuations probed by low frequency noise measurements in InN layers, Applied Physics Letters 98, 252104 (2011)
Redes:
Google Scholar: https://scholar.google.com/citations?user=6pNXOEIAAAAJ&hl=enhttps://scholar.google.es/citations?user=2luBjEUAAAAJ&hl=es
Research Gate: https://www.researchgate.net/profile/Tommaso-Brazzini
ORCID: https://orcid.org/0000-0002-1715-7552